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| 背减薄工艺对中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件可靠性的影响 | |
| 引用本文： | 田立萍,朱颖峰,刘湘云,郭建华.背减薄工艺对中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件可靠性的影响[J].红外技术,2013(10). |
| 作者姓名： | 田立萍 朱颖峰 刘湘云 郭建华 |
| 作者单位： | 昆明物理研究所,云南 昆明,650223 |
| 摘 要： | 通过对A版（初减薄）和B版（终减薄）中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件进行可靠性试验，并对其试验后的光电特性进行比较，最终给出B版焦平面探测器组件工作寿命的初步评价。 |
| 关 键 词： | 背减薄 焦平面探测器 工作寿命 |
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