同位素源能量色散X荧光法测定工业排放废水中铬(Ⅵ)、汞、铅、砷和镉 |
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引用本文: | 李纪民,郭魁生,李桂榛,林国栋.同位素源能量色散X荧光法测定工业排放废水中铬(Ⅵ)、汞、铅、砷和镉[J].核技术,1982(4). |
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作者姓名: | 李纪民 郭魁生 李桂榛 林国栋 |
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作者单位: | 中国科学院原子能研究所
(李纪民,郭魁生,李桂榛),中国科学院原子能研究所(林国栋) |
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摘 要: | 本文研究了用~(238)Pu和~(241)Am同位素放射源激发的Si(Li)探测的能量色散X荧光法进行对工业废水的控制分析。 我们用二乙基二硫代氨甲酸钠(铜试剂)作沉淀剂,二价铁作载体,取样200ml进行共沉淀,用0.3μm孔径的醋酸纤维素膜过滤,空气干燥,测量30分钟,该方法对这5个元素的检出限可达0.02~0.06μg/ml。
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