单模光纤抗压力测试与低温性能的相关性研究

光纤在低温环境下的使用越来越广泛，更加优异的低温用涂料和光纤低温性能的研究探索也逐步深入。采用3种不同涂料的G652单模光纤进行光纤抗压力测试，对抗压力测试后的光纤表面形貌进行分析，同时对低温试验后光纤的涂层抗压力与附加衰减性能进行测试表征。实验结果表明：光纤自身抗压力值越大，其低温附加衰减值越小，耐低温性能就越佳，且低温测试前后的光纤抗压力值差异较小。