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a-Si:H TFT OLED驱动电路中存储电容对显示性能的影响
引用本文:李云飞,王永生,张晓龙,刘宏宇,王刚,邵喜斌,何大伟.a-Si:H TFT OLED驱动电路中存储电容对显示性能的影响[J].液晶与显示,2008,23(5).
作者姓名:李云飞  王永生  张晓龙  刘宏宇  王刚  邵喜斌  何大伟
作者单位:1. 北京交通大学光电子技术研究所,北京,100044;京东方科技集团股份有限公司中央研究院,北京,100016
2. 北京交通大学光电子技术研究所,北京,100044
3. 吉林大学术计算机科学与技木学院,吉林,长春,130012
4. 京东方科技集团股份有限公司中央研究院,北京,100016
基金项目:国家自然科学基金  
摘    要:对OLED两管a-Si: H有源驱动技术中存储电容对器件寿命的影响进行了详细的讨论;结合驱动管的宽长比,从理论分析和SPICE模拟两个方面研究了存储电容对电路充电率、跳变电压和保持特性的影响,找出其间相互制约的数量关系,最后给出优化设计的参考值.

关 键 词:有源驱动  存储电容  充电率

Influence of Storage Capacitance on Character of a-Si'H TFT OLED Driving Circuit
LI Yun-fei,WANG Yong-sheng,ZHANG Xiao-long,LIU Hong-yu,WANG Gang,SHAO Xi-bin,HE Da-wei.Influence of Storage Capacitance on Character of a-Si''H TFT OLED Driving Circuit[J].Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays,2008,23(5).
Authors:LI Yun-fei  WANG Yong-sheng  ZHANG Xiao-long  LIU Hong-yu  WANG Gang  SHAO Xi-bin  HE Da-wei
Abstract:
Keywords:OLED
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