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DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
影响铝线键合失效因素及失效分析
作者姓名:
黄全全
王立
葛伟华
作者单位:
1.南瑞联研半导体有限责任公司
摘 要:
本文根据大量的工作和经验的积累,列举了影响键合失效的因素,并根据这些失效的产品或样品给出了失效分析,总结了经验和积累了数据,并给出了相应的解决方法,只有不断的优化键合过程,才能提升产品良率。
关 键 词:
铝线键合
键合参数
失效因素
半导体
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