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影响铝线键合失效因素及失效分析
作者姓名:黄全全  王立  葛伟华
作者单位:1.南瑞联研半导体有限责任公司
摘    要:本文根据大量的工作和经验的积累,列举了影响键合失效的因素,并根据这些失效的产品或样品给出了失效分析,总结了经验和积累了数据,并给出了相应的解决方法,只有不断的优化键合过程,才能提升产品良率。

关 键 词:铝线键合  键合参数  失效因素  半导体
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