| 背景光照对高精度接触角测量的影响 |
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| 引用本文： | 赵昆越,田汉民,郭丹,王铮,常卫洪.背景光照对高精度接触角测量的影响[J].仪表技术与传感器,2019(5):100-103. |
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| 作者姓名： | 赵昆越 田汉民 郭丹 王铮 常卫洪 |
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| 作者单位： | 河北工业大学电子信息工程学院;天津市电子材料与器件重点实验室 |
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| 摘 要： | 接触角测量精度关系到材料表面性能的研究。目前普遍的接触角测量仪由光学成像系统(背景光源、摄像头、样品台、进样器等)和PC机图像处理软件组成,背景光照是决定液滴图像质量的重要因素,间接影响接触角测量的精度;研究了不均匀光照强度对接触角测量的影响,应用图像处理技术对比分析数据,通过Mie光散射理论阐述其原理;并指出在一定范围内,由中心向外部亮度逐渐减小的不均匀背景光照会增大测量误差。
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| 关 键 词： | 光照强度 接触角 图像处理 精度 光源 MIE散射 |
Effect of Background Light on High Precision Contact Angle Measurement |
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| ZHAO Kun-yue,TIAN Han-min,GUO Dan,WANG Zheng,CHANG Wei-hong.Effect of Background Light on High Precision Contact Angle Measurement[J].Instrument Technique and Sensor,2019(5):100-103. |
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| Authors: | ZHAO Kun-yue TIAN Han-min GUO Dan WANG Zheng CHANG Wei-hong |
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| Affiliation: | (School of Electronic Information Engineering, Hebei University of Technology,Tianjin 300401,China;Tianjin Key Laboratory of Electronic Materials and Devices,Tianjin 300401,China) |
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| Abstract: | ZHAO Kun-yue;TIAN Han-min;GUO Dan;WANG Zheng;CHANG Wei-hong(School of Electronic Information Engineering, Hebei University of Technology,Tianjin 300401,China;Tianjin Key Laboratory of Electronic Materials and Devices,Tianjin 300401,China) |
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| Keywords: | light intensity contact angle image processing accuracy light source Mie scattering |
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