| 基于多特征模型模拟电路可测性指标分析方法 |
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| 引用本文： | 龙兵,王彩利,高媛,田书林.基于多特征模型模拟电路可测性指标分析方法[J].仪器仪表学报,2013,34(4). |
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| 作者姓名： | 龙兵 王彩利 高媛 田书林 |
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| 作者单位： | 电子科技大学自动化工程学院 成都 611731 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金，中央高校基本科研业务费 |
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| 摘 要： | 结合多信号模型与多特征分析方法,提出了一种新的模拟电路可测性指标分析方法——多特征模型分析方法.该方法根据电路输出节点的阶跃响应波形,提取出多个特征信号,并将所有的特征形成一个特征向量,然后转换成故障-测试依赖矩阵进行可测性指标分析.以双二阶低通滤波器电路为例,分别在电路参数名义值、故障值与容差变化情况下,对所提方法与传统故障字典法进行可测性指标分析对比试验.仿真试验结果表明,提出的方法不仅需要测点少,故障检测率与隔离率很高,而且适合于具有容差的模拟电路可测性指标分析.
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| 关 键 词： | 模拟电路 容差 可测性指标 多特征模型 依赖矩阵 |
A testability index analysis method for analog circuits based on multi-feature model |
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| Long Bing
,
Wang Caili
,
Gao Yuan
,
Tian Shulin.A testability index analysis method for analog circuits based on multi-feature model[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2013,34(4). |
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| Authors: | Long Bing Wang Caili Gao Yuan Tian Shulin |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | |
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