| La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜的制备及其电学性能 |
| |
| 引用本文： | 张利文,丁铁柱,王强,姜涛.La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜的制备及其电学性能[J].功能材料,2007,38(A02):551-553. |
| |
| 作者姓名： | 张利文 丁铁柱 王强 姜涛 |
| |
| 作者单位： | 内蒙古大学理工学院物理系,内蒙古呼和浩特010021 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目（10464001）. |
| |
| 摘 要： | 采用离子束溅射法在氧化钇稳定的氧化锆（YSZ）和SiO2衬底上溅射＜薄膜，测试了不同工艺制备的La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜样品的XRD谱和电导率。分析了薄膜表面微结构以及电学性能。结果表明：在YSZ衬底上生长的La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜随着热处理温度的升高取向增强，当薄膜经过750℃热处理后结晶度最好；各样品直流电导率在低温段的Arrhenius曲线近似为直线，表明材料的导电行为符合小极化子导电机制；交流电导率在低频段（＜100kHz）电导率主要是靠晶界导电贡献的，而在高频区（＞100kHz），样品对交流电响应更加明显，电导率主要是靠晶粒导电贡献的。
|
| 关 键 词： | La0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜 XRD 电导率 |
| 文章编号： | 1001-9731（2007）增刊-0551-03 |
| 修稿时间： | 2007-01-12 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ |
