ZnO:Al薄膜的制备的工艺参数对其电阻率的影响 |
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引用本文: | 姜健,闻立时,等.ZnO:Al薄膜的制备的工艺参数对其电阻率的影响[J].真空,2000(6):24-28. |
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作者姓名: | 姜健 闻立时 |
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作者单位: | [1]东北大学,辽宁沈阳 [2]110006 |
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摘 要: | ZnO:Al是一种N型半导体材料,帷有透明氧化导电薄膜优良的光电特性,本文着重介绍了直流和射频磁控反应溅射下,种种上工艺参数对ZnO:Al薄膜电阻率的影响。
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关 键 词: | 电阻率 半导体薄膜 氧化锌/铝 制备 磁控溅射 |
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