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| 模拟多路开关在内建自测试结构中的应用 | |
| 引用本文： | 茅成,郭裕顺,等.模拟多路开关在内建自测试结构中的应用[J].仪器仪表学报,1995,16(1):21-25. |
| 作者姓名： | 茅成 郭裕顺 |
| 作者单位： | 杭州电子工业学院 |
| 摘 要： | 本文提出了采用模拟多路开关的模拟内建自测试电路ABIST的一种新结构。与采用ASR的ABIST^1]相比，本文倡导的SBIST不仅能够增加模拟IC的可测节点，而且能达到一定的测试精度，为模拟IC可测性设计和故障诊断提供了有效途径。 |
| 关 键 词： | 模拟集成电路 故障诊断 测试电路 多路开关 |
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