孔化过程中过孔塞孔现象的探究 |
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引用本文: | 郭雪春,欧植夫,林性恩,刘寿展.孔化过程中过孔塞孔现象的探究[J].印制电路资讯,2014(3):108-110. |
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作者姓名: | 郭雪春 欧植夫 林性恩 刘寿展 |
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作者单位: | 双鸿电子(惠州)有限公司 |
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摘 要: | 在PCB制作过程中,塞孔现象会导致孔无铜、孔铜偏薄缺陷,直接影响到PCB的电气功能,这是一直困扰PCB制作的顽疾。塞孔现象目前没有成熟的检测工具,使塞孔现象在过程控制中容易被忽略,最终使PCB报废或将不良品流入到客户端。孔铜偏薄现象在客户端使用时,受热拉伸导致孔铜断裂形成开路,引起客户投诉。本文主要讲述塞孔缺陷的危害性、导致塞孔的原因分析及过程控制。
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关 键 词: | 塞孔 孔无铜 孔铜偏薄 |
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