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QFN器件组装工艺缺陷分析及预防措施
作者姓名:毛久兵  邴继兵  黎全英  高燕青  胡筝  张润华  张红兵
作者单位:中国电科技集团公司第三十研究所,成都 611730
基金项目:国家重点研发计划项目(2021YFB3302104);
摘    要:QFN器件在组装过程中容易出现信号焊盘桥连、散热焊盘空洞和侧面焊点爬锡高度不足等工艺缺陷。分析了缺陷形成机理,并从PCB焊盘设计、焊膏印刷模板设计提出了有效预防措施。

关 键 词:QFN  桥连  空洞  电子组装
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