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在含有InSb非晶过渡层的GaAs衬底上用分子束外延生长InSb薄膜
引用本文:郑焕东.在含有InSb非晶过渡层的GaAs衬底上用分子束外延生长InSb薄膜[J].红外与激光工程,1994(5).
作者姓名:郑焕东
摘    要:在(100)取向半绝缘GaAs衬底上,采用独特的含有InSb非晶过渡层的两步分子束外延(MBE)生长了异质外延InSb薄膜。InSb外延层表面为平滑镜面,外延层厚度约为6μm,导电类型为n型,室温(300K)和液氮(77K)霍尔载流子浓度分别为n_(300K):2.0×10 ̄(16)cm ̄(-3)和n_(77K):2.4×10 ̄(15)cm ̄(-3);电子迁移率分别为μ_(300K):41000cm ̄2V ̄(-1)S_(-1)和μ_(77K):51200cm ̄2V ̄(-1)S ̄(-1)。InSb外延层双晶衍射半峰宽为198arcs,最好的InSb外延层的半峰宽小于150arcs。采用InSb非晶过渡层有效地降低了外延层中的位错密度,改善了InSb外延层的质量。

关 键 词:分子束外延,非晶过渡层,锑化铟外延层,砷化镓衬底
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