| 一种针对SEU的同步纠错流水线设计 |
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| 引用本文： | 王党辉,辛明瑞.一种针对SEU的同步纠错流水线设计[J].西北工业大学学报,2010,28(6). |
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| 作者姓名： | 王党辉 辛明瑞 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金，863计划，陕西省自然科学基金，西北工业大学"翱翔之星计划"资助 |
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| 摘 要： | 单粒子效应是星载计算机工作异常和发生故障的重要诱因之一,国内外多颗卫星曾遭受了单粒子效应的危害,造成巨大的经济损失.文章提出了一种同步纠错的流水线结构,对错误的检测与纠正进行了任务分解;当存在可纠正错误时,将纠正后的数据写入寄存器堆之后重启流水线.采用直接纠错流水线技术的Longtium-FT2容错处理器的抗辐射总剂量能力在采用普通商用加工工艺实现时达到了30 krad(Si).
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| 关 键 词： | 微处理器芯片 可靠性 抗辐射 单粒子效应 同步纠错流水线 |
Designing a Synchronous Error Correction Pipeline for Dealing with SEU |
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| Wang Danghui,Xin Mingrui.Designing a Synchronous Error Correction Pipeline for Dealing with SEU[J].Journal of Northwestern Polytechnical University,2010,28(6). |
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| Authors: | Wang Danghui Xin Mingrui |
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