| 测试生成算法评估与预报系统 |
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| 引用本文： | 杭静,徐拾义.测试生成算法评估与预报系统[J].计算机工程,2001,27(5):102-104. |
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| 作者姓名： | 杭静 徐拾义 |
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| 作者单位： | 上海大学计算机工程与科学系, |
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| 摘 要： | 测试生成算法评估与预报系统分别利用回归算法、神经网络算法和遗传算法为测试生成算法建立预报模型，使得对给定电路，不必实际运行测试生成算法，就可快速地得到最有效的测试生成算法。对如何利用遗传算法建立预报模型进行了较为详细的论述。
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| 关 键 词： | 遗传算法 预报模型 测试生成算法 可测性参数 VLSI 超大规模集成电路 |
| 文章编号： | 1000-3428(2001)05-0102-03 |
| 修稿时间： | 2000年9月25日 |
An Evaluation and Forecasting System for Test Generation Algorithm |
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| HANG JingXU Shiyi.An Evaluation and Forecasting System for Test Generation Algorithm[J].Computer Engineering,2001,27(5):102-104. |
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| Authors: | HANG JingXU Shiyi |
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| Abstract: | An evaluation and forecasting system for test generation algorithm establishes forecasting models by using regression algorithm, neural network and genetic algorithm. We needn't run test generation algorithm to given circuit by using the system, and we can rapidly get the most effective test generation algorithm. The paper mostly discusses establishing forecasting models by using genetic algorithm. ;;;; |
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| Keywords: | Genetic algorithmGenetic algorithm forecasting modelTest generation algorithmCharacteristic parametersTestability parameters |
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