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SU-8胶曝光衍射效应的模拟及丙三醇补偿方法
引用本文:朱真,黄庆安,李伟华,周再发,冯明.SU-8胶曝光衍射效应的模拟及丙三醇补偿方法[J].半导体学报,2007,28(12).
作者姓名:朱真  黄庆安  李伟华  周再发  冯明
作者单位:东南大学MEMS教育部重点实验室,南京,210096
摘    要:基于SU-8胶的UV-LIGA技术是MEMS中制备高深宽比结构的一种重要方法,但由于衍射效应会使结构的侧壁不再垂直.根据菲涅耳衍射模型,考虑了丙三醇/SU-8界面的反射和折射现象,模拟了丙三醇填充在掩膜版和光刻胶之间时的刻蚀图形.计算结果与已有的实验进行了比较,模型基本可以描述这种光刻过程,可在设计时作为参考.

关 键 词:SU-8胶  菲涅耳衍射  丙三醇

Simulation of the Diffraction Effect in Exposure on a SU-8 Photoresist and the Glycerol Compensated Method
Zhu Zhen,Huang Qing'an,Li Weihua,Zhou Zaifa,Feng Ming.Simulation of the Diffraction Effect in Exposure on a SU-8 Photoresist and the Glycerol Compensated Method[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(12).
Authors:Zhu Zhen  Huang Qing'an  Li Weihua  Zhou Zaifa  Feng Ming
Abstract:
Keywords:
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