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| 车规SiC MOSFET极限寿命评估后漏电失效机理 | |
| 引用本文： | 张宇隆,黄凯,黄以明,郑广州.车规SiC MOSFET极限寿命评估后漏电失效机理[J].电力电子技术,2021,55(12):40-42,54. |
| 作者姓名： | 张宇隆 黄凯 黄以明 郑广州 |
| 作者单位： | 国家新能源汽车技术创新中心,北京100176 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 金属氧化物半导体场效应晶体管 漏电 失效机理 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
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