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基于图论的最小测试集的寻找
引用本文:蒋薇薇,鲁昌华,章其波,刘春.基于图论的最小测试集的寻找[J].仪器仪表学报,2003,24(Z2):295-297.
作者姓名:蒋薇薇  鲁昌华  章其波  刘春
作者单位:合肥工业大学,合肥,230009
基金项目:2001年安徽省科研重点项目(No.01041177).
摘    要:电路的测试与诊断已有了广泛的研究,但被测电路的最小测试集的寻找一直是个难题.本文引用图论中的有关概念,对使用离散事件系统理论进行建模的电路进行最小测试集的查找,能够方便快捷的获得被测电路的最小测试集.最后用实例对该方法进行了验证.

关 键 词:    离散事件系统  可测性  最小测试集

Looking for a Minimal Test Set Based on the Graph Theory
Abstract:
Keywords:
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