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模拟集成电路频率特性测试(英文)
引用本文:薛冰,曹健.模拟集成电路频率特性测试(英文)[J].测试科学与仪器,2014(3).
作者姓名:薛冰  曹健
作者单位:1. 武警石家庄士官学校,河北石家庄,050061
2. 中国人民解放军61773部队,新疆乌鲁木齐,830000
摘    要:本文提出了一种基于边界扫描测试技术的模拟电路频率特性测试方法。测试选用矩形脉冲作为激励,通过加入模拟开关,简化了模拟电路的测试过程。以模拟集成芯片uA741为被测核心电路进行实验,结果证明该设计是可行性的,而且与传统测试方法相比,该方法具有更高的可靠性和可测性。

关 键 词:矩形脉冲  模拟电路  内建测试(BIT)  边界扫描

Characteristic test of analog integrated circuit frequency
XUE Bing,CAO Jian.Characteristic test of analog integrated circuit frequency[J].Journal of Measurement Science and Instrumentation,2014(3).
Authors:XUE Bing  CAO Jian
Abstract:
Keywords:rectangular pulse  analog circuit  built-in-test (BIT)  boundary scan
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