| GaAs高速集成电路内部动态特性直接电光采样检测 |
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| 引用本文： | 孙伟,田小建,贾刚,孙建国,衣茂斌,马振昌,王国全.GaAs高速集成电路内部动态特性直接电光采样检测[J].红外与毫米波学报,1994,13(5). |
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| 作者姓名： | 孙伟 田小建 贾刚 孙建国 衣茂斌 马振昌 王国全 |
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| 作者单位： | 吉林大学电子工程系，吉林大学电子工程系，吉林大学电子工程系，吉林大学电子工程系，吉林大学电子工程系，电子工业部第13研究所，电子工业部第13研究所 集成光电子学国家重点联合实验室 吉林大学实验区，吉林 长春130023，集成光电子学国家重点联合实验室 吉林大学实验区，吉林 长春130023，集成光电子学国家重点联合实验室 吉林大学实验区，吉林 长春130023，集成光电子学国家重点联合实验室 吉林大学实验区，吉林 长春130023，集成光电子学国家重点联合实验室 吉林大学实验区，吉林 长春130023，河北，石家庄050051，河北，石家庄050051 |
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| 摘 要： | 研制成功GaAs高速集成电路直接电光采样测试系统.采用共轴反射式光路,对样品进行背面直接采样.用研制的微波探针在片驱动GaAs高速数字集成电路管芯,使之处于正常工作状态.测试系统的时间分辨率高于20ps,空间分辨率为3μm.利用该系统在片检测了GaAs高速数字集成电路动态分频器内部的高速电信号.
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| 关 键 词： | 电光采样 微波探针 高速集成电路 半导体激光器 电子移相 在片检测 |
DIRECT ELECTRO-OPTIC SAMPLING OF INTERNAL DYNAMIC CHARACTERISTIC IN HIGH-SPEED GaAs INTEGRATED CIRCUIT |
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| Sun Wei Tian Xiaojian Jia Gang Sun Jianguo Yi Maobin.DIRECT ELECTRO-OPTIC SAMPLING OF INTERNAL DYNAMIC CHARACTERISTIC IN HIGH-SPEED GaAs INTEGRATED CIRCUIT[J].Journal of Infrared and Millimeter Waves,1994,13(5). |
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| Authors: | Sun Wei Tian Xiaojian Jia Gang Sun Jianguo Yi Maobin |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | electro-optic sampling microwave probe high-speed integrated circuit semiconductor laser electronic phase shifter on-wafer test |
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