| 集成电路芯片测试仪设计 |
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| 引用本文： | 刘远鹏,胡惟文.集成电路芯片测试仪设计[J].传感器世界,2016,22(10):14-17. |
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| 作者姓名： | 刘远鹏 胡惟文 |
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| 作者单位： | 湖南文理学院物理与电子科学学院,湖南常德,415000;湖南文理学院物理与电子科学学院,湖南常德,415000 |
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| 摘 要： | 设计制作了一个集成电路芯片测试仪,以STC90C516RD+单片机为核心,12864液晶显示器作为显示模块,采用了无线模块与电脑通信.该芯片测试仪能对常用的74系列芯片、CD系列芯片,以及LM系列和UA741组合逻辑芯片进行功能测试;能通过12864显示芯片的逻辑符号、逻辑表达式、芯片的功能以及状态转换图;能够将测得的型号通过无线串口发送到PC上位机.通过测试说明本设计制作的集成电路芯片测试仪在芯片检测,电路维修等方面具有重要意义.
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| 关 键 词： | 集成电路芯片 单片机 自动识别型号 |
Design of an IC chip tester |
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| LIU Yuan-peng,HU Wei-wen.Design of an IC chip tester[J].Sensor World,2016,22(10):14-17. |
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| Authors: | LIU Yuan-peng HU Wei-wen |
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