| 基于STM32的微位移检测系统设计 |
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| 引用本文： | 王选择,侯浩,翟中生,杨练根,刘文超.基于STM32的微位移检测系统设计[J].传感器与微系统,2016(7):83-86. |
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| 作者姓名： | 王选择 侯浩 翟中生 杨练根 刘文超 |
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| 作者单位： | 1. 湖北工业大学机械工程学院,湖北武汉430068;湖北省现代制造质量工程重点实验室,湖北武汉430068;2. 湖北工业大学机械工程学院,湖北武汉,430068 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(51175154;51275157)，湖北省杰出青年人才基金资助项目(2010CDA088)，湖北省教育厅中青年基金资助项目(Q20101405;Q20101407)，湖北省科技厅基金资助项目(2010CDB03104) |
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| 摘 要： | 研制了一种基于STM32的微位移检测系统设计方案.通过抑制直流漂移的电路处理模块得到直流稳定的两路光电信号.根据两路光电信号的相位特点,采用STM32同步采样两路光电信号,并利用椭圆拟合、最小二乘法、相位解包裹法对采集的数据进行处理运算,计算出微位移.现场测试结果表明:该系统满足微位移测量要求.
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| 关 键 词： | 干涉 微位移 直流漂移 STM32 椭圆拟合 最小二乘法 相位解包裹法 |
Design of micro displacement detecting system based on STM32 |
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| WANG Xuan-ze,HOU Hao,ZHAI Zhong-sheng,YANG Lian-gen,LIU Wen-chao.Design of micro displacement detecting system based on STM32[J].Transducer and Microsystem Technology,2016(7):83-86. |
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| Authors: | WANG Xuan-ze HOU Hao ZHAI Zhong-sheng YANG Lian-gen LIU Wen-chao |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | interference micro displacement DC drift STM32 Ellipse fitting least-square fitting phase-unwrapping |
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