| （Pb1-x Srx）TiO3铁电薄膜电滞回线的测试分析 |
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| 引用本文： | 王茂祥,孙平.（Pb1-x Srx）TiO3铁电薄膜电滞回线的测试分析[J].真空与低温,2006,12(3):142-144. |
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| 作者姓名： | 王茂祥 孙平 |
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| 作者单位： | 南京大学,工程管理学院,江苏,南京,210093 |
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| 摘 要： | 采用磁控溅射法制备了PST薄膜,讨论了其制备工艺并着重对其电滞回线进行了测试分析.从测试结果来看,其饱和极化强度Ps典型值为19.0μC/cm2,剩余极化强度为6.6μC/cm2,矫顽场强为16 kV/cm,热释电系数为10-4量级.表明所制备的PST薄膜具有较好的铁电性能.
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| 关 键 词： | (Pb1-xSrx)TiO3薄膜 磁控溅射 电滞回线 铁电性 |
| 文章编号： | 1006-7086(2006)03-0142-03 |
| 修稿时间： | 2006年4月6日 |
FABRICATION AND HYSTERESIS LOOPS PROPERTY OF (Pb1-xSrx)TiO3 FERROELECTRIC THIN FILMS |
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| WANG Mao-xiang,SUN Pin.FABRICATION AND HYSTERESIS LOOPS PROPERTY OF (Pb1-xSrx)TiO3 FERROELECTRIC THIN FILMS[J].Vacuum and Cryogenics,2006,12(3):142-144. |
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| Authors: | WANG Mao-xiang SUN Pin |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | (Pb1-xSrx)TiO3 thin films magnetic-sputtering hysteresis loops ferroelectric property |
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