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MOCVD法氧化锌单晶薄膜生长
引用本文:刘博阳,杜国同,杨小天,赵佰军,张源涛,高锦岳,刘大力,杨树人.MOCVD法氧化锌单晶薄膜生长[J].液晶与显示,2004,19(2):99-102.
作者姓名:刘博阳  杜国同  杨小天  赵佰军  张源涛  高锦岳  刘大力  杨树人
作者单位:1. 吉林大学,电子科学与工程学院,集成光电子国家联合重点实验室,吉林,长春,130021;吉林大学,物理学院,相干光、原子与分子光谱教育部重点实验室,吉林,长春,130021
2. 吉林大学,电子科学与工程学院,集成光电子国家联合重点实验室,吉林,长春,130021
3. 吉林大学,物理学院,相干光、原子与分子光谱教育部重点实验室,吉林,长春,130021
基金项目:国家“8 63”高技术项目 (No .2 0 0 1AA3 1113 0 ),国家自然科学基金资助项目 (No .60 1770 0 7,No .60 1760 2 6)
摘    要:介绍了氧化锌材料的一些突出特性以及生长氧化锌的方法。并通过金属有机化学气相沉积 (MOCVD)方法制备了优良的氧化锌薄膜。使用X射线衍射 (XRD)谱和室温光致发光(PL)光谱对所生长氧化锌薄膜的晶体质量和光学特性进行了研究。X射线衍射谱图显示仅在2θ =34.72°处有一个很陡峭的ZnO (0 0 2 )晶面衍射峰 ,说明所制备的氧化锌薄膜c轴取向高度一致。此衍射峰的半高宽为 0 .2 82° ,显示出较好的晶体质量。在室温光致发光谱中 ,薄膜的紫外发光强度与深能级复合发光的强度比超过 10∶1,表明薄膜的光学质量较高

关 键 词:氧化锌  金属有机化学气相沉积法  单晶薄膜  薄膜生长  X射线衍射分析  光致发光光谱
文章编号:1007-2780(2004)02-0099-04
修稿时间:2003年10月16

Study of ZnO Film Grown by MOCVD
LIU Bo-yang.Study of ZnO Film Grown by MOCVD[J].Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays,2004,19(2):99-102.
Authors:LIU Bo-yang
Affiliation:LIU Bo-yang~
Abstract:
Keywords:ZnO  MOCVD  film  growth
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