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一种改善空间分辨率的电阻抗成像技术
引用本文:严佩敏,莫玉龙,陈崟君,彭源. 一种改善空间分辨率的电阻抗成像技术[J]. 中国图象图形学报, 2003, 8(Z1): 496-498
作者姓名:严佩敏  莫玉龙  陈崟君  彭源
作者单位:严佩敏(上海大学通信工程系,上海,200072)      莫玉龙(上海大学通信工程系,上海,200072)      陈崟君(瞭望东方传媒有限公司,上海,200031)      彭源(上海大学通信工程系,上海,200072)
基金项目:国家自然科学基金项目(60075009)
摘    要:电阻抗断层功能成像技术(Electrical Impedance Tomography简称EIT),是当今生物医学工程学重大研究课题之一,它是通过对物体表面电压、电流的测量来重建物体内部阻抗分布或变化的一种新颖的医学成像技术.它是继形态、结构成像之后,于近20年才出现的新一代无损伤功能成像技术.本文介绍了电阻抗成像技术的基本原理及研究的现状,针对成像技术中所需的有限元方法,采用了对某一物体内部阻抗变化的位置进行局部细化剖分,再重建出物体内阻抗分布图象的成像方法.这种方法不仅能减少重建算法的计算量,且能提高阻抗图象的空间分辨率.实验结果表明这种方法是可取的.

关 键 词:电阻抗成像 有限元 网格细分
文章编号:1006-8961(2003)spec-0496-03
修稿时间:2003-04-15

An Improved Space Resolution for Electrical Impedance Tomography
Abstract:
Keywords:
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