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| 一种有效的八位MCU桶形移位器 BIST 电路 | |
| 引用本文： | 徐新民,洪波,尚丽娜,何乐年. 一种有效的八位MCU桶形移位器 BIST 电路[J]. 电路与系统学报, 2007, 12(6): 85-88 |
| 作者姓名： | 徐新民 洪波 尚丽娜 何乐年 |
| 作者单位： | 1. 浙江大学,电子线路与信息系统研究所,浙江,杭州,310027 2. 浙江大学,超大规模集成电路设计研究所,浙江,杭州,310027 |
| 摘 要： | 针对8位微控制器（MCU）数据通道中桶形移位器的可测试性问题，提出了一种新颖的确定性内置自测试（BIST）电路设计方案，并对其进行了验证。该方案采用5个D触发器，在16个测试时钟周期内产生16个测试矢量，可完成对8位桶形移位器100％故障覆盖率测试。本论文的电路设计方案也可应用于一般2^N位（N≥4）桶形移位器的可测试设计。 |
| 关 键 词： | 桶形移位器 数据通道 确定性内置自测试 可测试设计 |
| 文章编号： | 1007-0249（2007）06-0085-04 |
| 收稿时间： | 2004-09-17 |
| 修稿时间： | 2004-11-08 |
An effective BIST circuit for barrel shifter within 8 bits MCU |
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| XU Xin-min,HONG Bo,SHANG Li-na,HE Le-nian. An effective BIST circuit for barrel shifter within 8 bits MCU[J]. Journal of Circuits and Systems, 2007, 12(6): 85-88 | |
| Authors: | XU Xin-min HONG Bo SHANG Li-na HE Le-nian |
| Abstract: | |
| Keywords: | barrel shifter datapath deterministic BIST Design for Testability |
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