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责任编辑
分类号
杂志ISSN号
SiC晶片精密研磨工艺及其表面损伤研究
作者姓名:
韩会宁
作者单位:
河北远东通信系统工程有限公司,石家庄,050000
摘 要:
SiC作为制造高温、高频、大功率光电集成器件的理想材料,具有高临界击穿强度、高电子迁移率、高导热率等多个特点。SiC晶片的表面光滑度对于晶片工艺研究有着极为重要的作用,但是在对晶片进行研磨的过程中不可避免地会对镜片表面造成损伤,影响晶片性能。本文对此进行了一系列研究。
关 键 词:
SiC晶片
研磨工艺
表面损伤
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