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DBD-PECVD法制备CN薄膜的结构及性能研究
引用本文:张莲莲,刘艳红,牛金海,刘东平. DBD-PECVD法制备CN薄膜的结构及性能研究[J]. 真空科学与技术学报, 2009, 29(5). DOI: 10.3969/j.issn.1672-7126.2009.05.05
作者姓名:张莲莲  刘艳红  牛金海  刘东平
作者单位:1. 大连理工大学物理与光电工程学院,大连,116023;大连民族学院光电子技术研究所,大连,116600
2. 大连理工大学物理与光电工程学院,大连,116023
3. 大连民族学院光电子技术研究所,大连,116600
摘    要:
使用自行设计的真空系统,采用介质阻挡放电等离子体增强化学气相沉积(DBD-PECVD)法,分别以CH4/N2、C2H2/N2、C2H4/N2混合气体作为反应气体,在单晶硅片上成功制备了CN薄膜.FTIR结果证实了薄膜中碳氮原子结合成化学键,Raman结果说明薄膜中含有类金刚石结构,AFM结果表明薄膜粗糙度随放电气压的升高而逐渐增大.三种混合气体沉积的CN薄膜,以CH4/N2的沉积速度最慢,薄膜表面粗糙度最小,含H量最少;C2H2/N2的沉积速度最快,薄膜表面粗糙度最大.

关 键 词:碳氮薄膜  薄膜结构  介质阻挡放电

Microstructures and Properties of CN Films Grown by Dielectric Barrier Discharge Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition
Zhang Lianlian,Liu Yanhong,Niu Jinhai,Liu Dongping. Microstructures and Properties of CN Films Grown by Dielectric Barrier Discharge Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition[J]. JOurnal of Vacuum Science and Technology, 2009, 29(5). DOI: 10.3969/j.issn.1672-7126.2009.05.05
Authors:Zhang Lianlian  Liu Yanhong  Niu Jinhai  Liu Dongping
Abstract:
Keywords:FTIR  AFM  Raman
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