首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

带有复合掺杂层集电区的InP/InGaAs/InP DHBT直流特性分析
引用本文:孙浩,齐鸣,徐安怀,艾立鹍,苏树兵,刘新宇,刘训春,钱鹤.带有复合掺杂层集电区的InP/InGaAs/InP DHBT直流特性分析[J].半导体学报,2006,27(8).
作者姓名:孙浩  齐鸣  徐安怀  艾立鹍  苏树兵  刘新宇  刘训春  钱鹤
作者单位:1. 中国科学院上海微系统与信息技术研究所,信息功能材料国家重点实验室,上海,200050
2. 中国科学院微电子研究所,北京,100029
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:设计了一种新结构InP/InGaAs/InP双异质结双极晶体管(DHBT),在集电区与基区之间插入n+-InP层,以降低集电结的导带势垒尖峰,克服电流阻挡效应.采用基于热场发射和连续性方程的发射透射模型,计算了n+-InP插入层掺杂浓度和厚度对InP/InGaAs/InP DHBT集电结导带有效势垒高度和I-V特性的影响.结果表明,当n+-InP插入层掺杂浓度为3×1019cm-3、厚度为3nm时,可以获得较好的器件特性.采用气态源分子束外延(GSMBE)技术成功地生长出InP/InGaAs/InP DHBT结构材料.器件研制结果表明,所设计的DHBT材料结构能有效降低集电结的导带势垒尖峰,显著改善器件的输出特性.

关 键 词:InP/InGaAs  异质结双极晶体管  复合集电区  掺杂  势垒尖峰

Analysis of an InP/InGaAs/InP DHBT with Composite Doping Collector
Sun Hao,Qi Ming,Xu Anhuai,Ai Likun,Su Shubing,Liu Xinyu,Liu Xunchun,Qian He.Analysis of an InP/InGaAs/InP DHBT with Composite Doping Collector[J].Chinese Journal of Semiconductors,2006,27(8).
Authors:Sun Hao  Qi Ming  Xu Anhuai  Ai Likun  Su Shubing  Liu Xinyu  Liu Xunchun  Qian He
Abstract:
Keywords:
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《半导体学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《半导体学报》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号