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| 继电器年会及继电器可靠性的现状与发展趋势 | |
| 引用本文： | 陆俭国,金福群.继电器年会及继电器可靠性的现状与发展趋势[J].低压电器,1989(2):2-5. |
| 作者姓名： | 陆俭国 金福群 |
| 作者单位： | 河北工学院 (陆俭国)，机械电子部第40研究所(金福群) |
| 摘 要： | 一、前言目前工业发达国家的继电器故障主要是触点故障,所以继电器的可靠性主要取决于其触点的接触可靠性。有关继电器及其接触可靠性的国际会议,目前主要有三个:一个是国际电接触现象会议(International Conference on Electric Contact Phenomena),它于1961年举行第一届年会,1964年起每两年召开一次,会议地点不固定在某一国,1988 |
| 关 键 词： | 继电器 年会 可靠性 |
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