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基于光采样的瞬时测频技术研究
引用本文:闫浩,赵国庆,秦国栋.基于光采样的瞬时测频技术研究[J].电波科学学报,2014(1).
作者姓名:闫浩  赵国庆  秦国栋
作者单位:西安电子科技大学电子信息攻防对抗与仿真技术教育部重点实验室;
基金项目:中央高校基本科研业务费专项资金资助(K5051202024)
摘    要:传统高频微波信号瞬时测频(Instantaneous Frequency Measurement,IFM)技术受模拟数字转换器(Analog To Digital Converter,ADC)影响很大.提出了一种新的光采样方法,放弃传统的ADC,利用光强度调制器将高频微波信号调制到低重复频率采样光脉冲上,进而达到光采样的目的.利用快速傅里叶变换(Fast Fourier Transform,FFT)结合线性调频z变换(Chirp-z Transform,CZT)的方法,提高频谱分辨率,对欠采样条件下产生的频率余数进行准确估计,进而通过中国余数定理对信号频率进行重构.实验模拟表明,该方法可以对39GHz带宽内信号频率进行准确测量.

关 键 词:瞬时测频  光采样  线性调频z变换  中国余数定理  欠采样
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