基于光采样的瞬时测频技术研究 |
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引用本文: | 闫浩,赵国庆,秦国栋.基于光采样的瞬时测频技术研究[J].电波科学学报,2014(1). |
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作者姓名: | 闫浩 赵国庆 秦国栋 |
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作者单位: | 西安电子科技大学电子信息攻防对抗与仿真技术教育部重点实验室; |
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基金项目: | 中央高校基本科研业务费专项资金资助(K5051202024) |
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摘 要: | 传统高频微波信号瞬时测频(Instantaneous Frequency Measurement,IFM)技术受模拟数字转换器(Analog To Digital Converter,ADC)影响很大.提出了一种新的光采样方法,放弃传统的ADC,利用光强度调制器将高频微波信号调制到低重复频率采样光脉冲上,进而达到光采样的目的.利用快速傅里叶变换(Fast Fourier Transform,FFT)结合线性调频z变换(Chirp-z Transform,CZT)的方法,提高频谱分辨率,对欠采样条件下产生的频率余数进行准确估计,进而通过中国余数定理对信号频率进行重构.实验模拟表明,该方法可以对39GHz带宽内信号频率进行准确测量.
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关 键 词: | 瞬时测频 光采样 线性调频z变换 中国余数定理 欠采样 |
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