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0.5μm分辨率同步辐射X射线光刻技术
引用本文:
谢常青,伊福廷.0.5μm分辨率同步辐射X射线光刻技术[J].微细加工技术,1999(3):32-34,5.
作者姓名:
谢常青
伊福廷
作者单位:
[1]中国科学院微电子中心三室 [2]科学院高能物理所同步室
摘 要:
报道了用X射线母掩模复制子掩模的工艺和用北京同步辐射装置(BSRF)3BIA光刻束线获得的0.5μm的光刻分辨率的实验结果。
关 键 词:
X射线光刻
分辨率
同步辐射
氮化硅薄膜
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