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基于均匀设计及非线性偏最小二乘法的非闭合电极ECT传感器参数优化设计
引用本文:刘靖,刘石,姜凡,雷兢,孙猛. 基于均匀设计及非线性偏最小二乘法的非闭合电极ECT传感器参数优化设计[J]. 高技术通讯, 2008, 18(1): 59-64. DOI: 10.3772/j.issn.1002-0470.2008.01.012
作者姓名:刘靖  刘石  姜凡  雷兢  孙猛
作者单位:河南理工大学土木工程学院,焦作,454000;中国科学院工程热物理研究所,北京,100080;华北电力大学能动学院,北京,102206;中国科学院工程热物理研究所,北京,100080
摘    要:提出了一种非闭合电极电容层析成像(ECT)传感器结构参数的优化方法.采用均匀设计结合非线性偏最小二乘(NPLS)回归,提取传感器结构参数(电极极板的宽度 L、绝缘外壳的壁厚δ1.、屏蔽罩与绝缘外壳间距δ2及绝缘外壳材料的相对介电常数ε)与待优化指标(敏感场的均匀度及灵敏度指标p1、最大与最小电容的比值 K)间的函数关系,建立相应的优化目标泛函,通过对优化目标泛函的求解,最终获得传感器结构参数的最优值.并以 10 电极非闭合电极 ECT 传感器为研究对象,进行了结构参数的优化设计,根据优化结果设计制作了非闭合电极 ECT 传感器,对其成像进行了仿真与实测.结果表明,参数优化后的传感器图像重建质量优于未优化的传感器.

关 键 词:电容层析成像(ECT)  传感器  优化设计  均匀设计  非线性偏最小二乘法
修稿时间:2007-06-04

Parameter optimization of unclosed electrode sensor of electrical capacitance tomography based on uniform design and NPLS
Liu Jing,Liu Shi,Jiang Fan,Lei jing,Sun Meng. Parameter optimization of unclosed electrode sensor of electrical capacitance tomography based on uniform design and NPLS[J]. High Technology Letters, 2008, 18(1): 59-64. DOI: 10.3772/j.issn.1002-0470.2008.01.012
Authors:Liu Jing  Liu Shi  Jiang Fan  Lei jing  Sun Meng
Affiliation:Liu Jing~(* **) Liu Shi~(***) Jiang Fan~(**) Lei jing~(**) Sun Meng~(**)(* School of Civil Engineering,Henan Polytechnic University,Jiaozuo 454000)(** Institute of Engineering Thermophysics,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100080)(*** School of Energy & Power Engineering,North China Electric Power University,Beijing 102206)
Abstract:
Keywords:electrical capacitance tomography(ECT)  sensor  optimization design  uniform design  non-linear partial least-square(NPLS)  
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