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| CAF失效分析方法探讨 | |
| 引用本文： | 张盘新,严泽军.CAF失效分析方法探讨[J].印制电路信息,2009(Z1):505-507. |
| 作者姓名： | 张盘新 严泽军 |
| 作者单位： | 麦可罗泰克(常州)产品服务有限公司 |
| 摘 要： | 电子产品的高密度、小型化使得由印制线路板产生的CAF现象成为影响产品可靠性的一个重要因素。本文介绍了利用实验室手段寻找CAF失效点的方法,找出失效原因,以帮助PCB生产商改进工艺,提高产品可靠性。 |
| 关 键 词： | CAF导电阳极丝 垂直切片 水平切片 SEM EDS |
The CAF Failure Analysis Method |
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| Abstract: | |
| Keywords: | SEM EDS |
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