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探针对原子力显微镜成像的影响
引用本文:李丽丽,宋正勋,刘晓刚,王作斌.探针对原子力显微镜成像的影响[J].长春理工大学学报,2014(1):72-75.
作者姓名:李丽丽  宋正勋  刘晓刚  王作斌
作者单位:[1]长春理工大学 电子信息工程学院,长春 130022 [2]吉林省纳米操纵 装配与制造国际科技合作基地,长春 130022
基金项目:基金项目:国家重大基础研究计划(973,2012CB326406);欧盟第七研究框架计划(LaserNaMi(247644);EcNANOMAN(269219));国家国际科技合作计划(2012DFA11070);国家自然科学基金(61176002);教育部博士点基金(20112216110002);吉林省科技发展计划(201115157,20110704);广东省科技发展计划(2011B010700101);长春市科技创新平台(11KP04)
摘    要:原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)的一个重要应用就是对样品表面的微纳米级尺寸特征进行成像,但在扫描成像的过程中,由于针尖的影响作用,使得扫描所获图像是原子力探针和样品共同作用的结果,而不是样品形貌的真实描述。本文通过用具有不同形状、尺寸针尖的探针对同一样品进行成像,将所得图像进行分析、对比,模拟和实验结果表明,为获得更准确的特征尺寸成像,对有不同特征尺寸的样品,需要选择适合的探针对其实施成像。

关 键 词:原子力显微镜  特征尺寸  成像  针尖形状

The Probe Impact on Imaging of Atomic Force Microscope
LI Lili,SONG Zhengxun,LIU Xiaogang,WANG Zuobin.The Probe Impact on Imaging of Atomic Force Microscope[J].Journal of Changchun University of Science and Technology,2014(1):72-75.
Authors:LI Lili  SONG Zhengxun  LIU Xiaogang  WANG Zuobin
Affiliation:1.School of Electronics and Information Engineering, Changchun University of Science and Technology, Changchun 130022; 2.Jilin Provincial International Science and Technology Cooperation Base for Nano Handling, Assembly and Manufacturing, Changchun 130022)
Abstract:AFM plays an important role in imaging feature size of samples with micro/ nano-scale. But as the interac-tion between the probe and sample,the image is usually a combination of them,and it is just an approximate descrip-tion of the sample. This paper the images of a fixed sample with probe of different shapes and sizes are presented,the data is compared and the results are concluded. Simulations and experiments demonstrate that the probe should be cho-sen properly to image based on the scale of different samples.
Keywords:AFM  characteristic size  imaging  tip shape
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