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考虑信号相关性的逻辑电路可靠度计算方法
引用本文:蔡烁,邝继顺,刘铁桥,王伟征. 考虑信号相关性的逻辑电路可靠度计算方法[J]. 电子学报, 2014, 42(8): 1660. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2014.08.032
作者姓名:蔡烁  邝继顺  刘铁桥  王伟征
作者单位:1. 湖南大学信息科学与工程学院,湖南长沙410082;长沙理工大学计算机与通信工程学院,湖南长沙410004
2. 湖南大学信息科学与工程学院,湖南长沙,410082
3. 长沙理工大学计算机与通信工程学院,湖南长沙,410004
摘    要:随着集成电路特征尺寸不断缩小,软错误已经成为影响电路可靠性的关键因素.计算软错误影响下逻辑电路的信号概率能辅助评估电路的可靠性.引起逻辑电路信号概率计算复杂性的原因是电路中的扇出重汇聚结构,本文提出一种计算软错误影响下逻辑电路可靠度的方法,使用概率公式和多项式运算,对引发相关性问题的扇出源节点变量作降阶处理,再利用计算得到的输出信号概率评估电路可靠度.用LGSynth91基准电路、74系列电路和ISCAS85基准电路为对象进行实验,结果表明所提方法准确有效.

关 键 词:软错误  信号相关性  扇出重汇聚  降阶  条件概率
收稿时间:2013-08-30

Reliability Calculation Method of Logic Circuits Considering Signal Correlation
CAI Shuo,KUANG Ji-shun,LIU Tie-qiao,WANG Wei-zheng. Reliability Calculation Method of Logic Circuits Considering Signal Correlation[J]. Acta Electronica Sinica, 2014, 42(8): 1660. DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2014.08.032
Authors:CAI Shuo  KUANG Ji-shun  LIU Tie-qiao  WANG Wei-zheng
Abstract:
Keywords:soft error  signal correlation  fanout reconvergent  reduce order  conditional probability
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