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体硅CMOS射频集成电路中高Q值在片集成电感的实现
引用本文:张志勇,海潮和. 体硅CMOS射频集成电路中高Q值在片集成电感的实现[J]. 微电子学, 2003, 33(1): 15-18
作者姓名:张志勇  海潮和
作者单位:中国科学院,微电子中心,北京,100029
摘    要:
制作高Q值在片集成电感一直是体硅CMOS射频集成电路工艺中的一大难点,文章讨论和分析了体硅RF IC工艺中提高在片集成电感Q值的几种常用方法,这些方法都与CMOS工艺兼容。

关 键 词:在片集成电感 射频集成电路 品质因素 钢互连 低k介质 体硅CMOS
文章编号:1004-3365(2003)01-0015-04
修稿时间:2002-03-11

High Q-Factor On-chip Spiral Inductors for Bulk Silicon CMOS RF IC''s
Abstract:
Keywords:On-chip inductors  RF IC  Quality factor  Copper interconnections  Low-k dielectric
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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