首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

化学还原压电晶片测试浅析
引用本文:林震,张俊,杨宜,罗俊.化学还原压电晶片测试浅析[J].山东化工,2019(4).
作者姓名:林震  张俊  杨宜  罗俊
作者单位:中国电子科技集团公司第二十六研究所
摘    要:本研究通过对普通压电晶片和还原压电晶片的性能进行相应测试方法的比对,分别对钽酸锂晶片和铌酸锂晶片电导率,居里温度,放电性能的测试结果进行分析对比,并且对普通晶片和还原片的性能进行对比分析研究,结果表明还原晶片的压电性能优于普通晶片。

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号