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| TD-LTE芯片步入拐点 多模MTnet测试在即 | |
| 引用本文： | 鲁义轩.TD-LTE芯片步入拐点 多模MTnet测试在即[J].通信世界,2011(42):26-26. |
| 作者姓名： | 鲁义轩 |
| 摘 要： | 经过政府与产业界的共同推动,TD-LTE终端必须兼容TD-SCDMA模式成为TD-LTE发展的既定原则。即将于年底开始的TD-LTE规模试验第二阶段将在终端环节推进TD-LTE多模终端的研发,并于年底开展"双芯片多模多待"的规模测试。为此,多家芯片厂商都在TD-LTE多模产品上制定了更新的研发与市场策略。随着试验的推进,包括联芯科技在内的多家芯片厂商陆 |
| 关 键 词： | 多模终端 芯片 测试 科技 技术试验 市场策略 研发 既定原则 中国移动 规模 |
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