| 实用模拟BIST的基本原则 |
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| 引用本文： | Steve Sunter. 实用模拟BIST的基本原则[J]. 电子设计技术, 2011, 18(2): 35-38 |
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| 作者姓名： | Steve Sunter |
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| 作者单位： | Mentor Graphics公司 |
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| 摘 要： | 实用模拟BIST有潜力降低IC测试成本,以及产品上市时间。20多年来,研究人员和半导体制造商一直在试图开发一种针对混合信号IC的实用模拟BIST(内置自检)。这种技术能够用数字测试仪作混合信号IC测试,以及简化的多址测试,从而能减少IC测试成本,以及IC上市时间。其它预期优点还有更快的测试开发,以及系统上的自检等。
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| 关 键 词： | 模拟BIST 数字BIST PLL BIST |
Essential Principles for Practical Analog BIST |
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| Steve Sunter. Essential Principles for Practical Analog BIST[J]. EDN China, 2011, 18(2): 35-38 |
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| Authors: | Steve Sunter |
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| Affiliation: | Mentor Graphics公司 |
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| Keywords: | PLL BIST |
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