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部分耗尽CMOS/SOI工艺
引用本文:刘新宇,孙海峰,陈焕章,扈焕章,海潮和,刘忠立,和致经,吴德馨.部分耗尽CMOS/SOI工艺[J].半导体学报,2001,22(6).
作者姓名:刘新宇  孙海峰  陈焕章  扈焕章  海潮和  刘忠立  和致经  吴德馨
作者单位:1. 中国科学院微电子中心,北京 100029
2. 中国科学院半导体研究所,北京 100083
摘    要:对部分耗尽CMOS/SOI工艺进行了研究,成功地开发出成套部分耗尽CMOS/SOI抗辐照工艺.其

关 键 词:PBL  沟道工程  双层布线

Technology of Partially Depleted CMOS/SOI
Abstract:
Keywords:
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