| 基于马尔科夫过程的半导体激光器空间辐射可靠性分析 |
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| 引用本文： | 周义建,陈校平,曲光,朱子行.基于马尔科夫过程的半导体激光器空间辐射可靠性分析[J].半导体光电,2015,36(1):24-27,33. |
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| 作者姓名： | 周义建 陈校平 曲光 朱子行 |
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| 作者单位： | 空军工程大学信息与导航学院,西安710077;空军大连通信士官学校,辽宁大连116600 |
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| 摘 要： | 通过对半导体激光器辐射效应的分析,得到了器件在空间环境中的损伤规律和退火规律.根据辐射效应的特点,将器件的性能退化表示为泊松过程与指数过程的结合,建立了基于马尔科夫过程的可靠性模型,利用一步概率转移矩阵获得了故障概率分布函数、可靠度函数以及平均故障前时间的计算方式.根据已有数据,对半导体激光器在空间辐射环境中的性能退化过程进行了仿真,得到了总测试时间为100 000 h时器件的故障概率分布曲线,计算得出平均故障前时间约为42 758.9 h,此时器件可靠度为0.451.分析了不同时间条件下器件的状态概率分布律,结果符合器件性能退化的一般规律,能够描述出器件的失效过程.
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| 关 键 词： | 半导体激光器 可靠性模型 马尔科夫过程 空间辐射效应 泊松过程 指数过程 |
| 收稿时间： | 2014/4/24 0:00:00 |
Study on Reliability of Space Irradiation of Laser Diodes Based on Markov Process |
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| ZHOU Yijian
,
CHEN Xiaoping
,
QU Guang
,
ZHU Zihang.Study on Reliability of Space Irradiation of Laser Diodes Based on Markov Process[J].Semiconductor Optoelectronics,2015,36(1):24-27,33. |
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| Authors: | ZHOU Yijian CHEN Xiaoping QU Guang ZHU Zihang |
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| Affiliation: | ZHOU Yijian;CHEN Xiaoping;QU Guang;ZHU Zihang;Information and Navigation College,Air Force Engineering University;Air Force Communications Officer School in Dalian; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | laser diodes reliability model Markov process space radiation effect Poisson process exponential process |
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