首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

非接触式全场三维激光ESPI与Shearography(NDT)测试技术
引用本文:王幼玲.非接触式全场三维激光ESPI与Shearography(NDT)测试技术[J].测试技术学报,2004,18(Z6).
作者姓名:王幼玲
摘    要:本文介绍最新激光电子散斑干涉技术ESPI与Shearography激光错位检测技术的基本原理及其应用.该技术足近十年间发展起来的最新的光测技术,它们的特点是非接触式全场三维测试,适用于新材料研究、电子元器件与构件的力学性能试验、振动测试及无损检测.国外的应用表明,ESPI技术可以提供快速、全场、三维的测试信息,能解决许多目前电测方法所不能解决的复杂问题,是目前具有广泛工程应用前景的先进的光测技术.

关 键 词:激光十涉  电子散斑干涉  数字化全息技术  非接触测量

3D Non-Contact Full Field ESPI and Shearography(NDT) Measurement Technique
Youling Wang.3D Non-Contact Full Field ESPI and Shearography(NDT) Measurement Technique[J].Journal of Test and Measurement Techol,2004,18(Z6).
Authors:Youling Wang
Abstract:
Keywords:
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号