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Cd1-xZnxTe合金的退火研究
作者姓名:魏彦锋  方维政  刘从峰  杨建荣  何力  王福建  王兴军  黄大鸣
作者单位:中国科学院上海技术物理研究所!上海200083,中国科学院上海技术物理研究所!上海200083,中国科学院上海技术物理研究所!上海200083,中国科学院上海技术物理研究所!上海200083,中国科学院上海技术物理研究所!上海200083,复旦大学应用表面物理国家重点实验室!上海200433,复旦大学
摘    要:用红外透射谱和喇曼散射谱研究了退火对 Cd1 - x Znx Te晶片中 Te沉淀的影响 .研究结果表明 ,红外透射谱只对大尺寸的 Te沉淀较为敏感 ,而喇曼散射谱却能够探测到样品中小尺寸的 Te沉淀 ,两者互为补充 .在 Cd气氛下对晶片进行退火处理 ,选择合适的退火温度和退火时间 ,可以有效地消除晶片中大尺寸的 Te沉淀 ,却难以消除晶片中小尺寸的微量 Te沉淀

关 键 词:CdZnTe   红外透射谱   喇曼散射
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