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基于0.13μm工艺的低电压CMOS场效应管输出电导
引用本文:杨志民,马义德,马永杰,摆玉龙,杨鸿武.基于0.13μm工艺的低电压CMOS场效应管输出电导[J].吉林大学学报(工学版),2009,39(1).
作者姓名:杨志民  马义德  马永杰  摆玉龙  杨鸿武
作者单位:1. 西北师范大学,物理与电子工程学院,兰州,730070
2. 兰州大学,信息科学与工程学院,兰州,730070
3. 西北师范大学,物理与电子工程学院,兰州,730070;兰州交通大学,机电技术研究所,兰州,730070
基金项目:国家自然科学基金项目(60875015);;西北师范大学知识与科技创新工程项目(NWUN-KJCXGC-03-24)
摘    要:对采用0.13μm工艺(p13)低电压工作条件下的CMOS模拟集成电路设计中场效应管的模型参数输出电导gd进行了研究,给出了设计公式。根据所研究的结果设计了一个两级运算放大器电路并进行了仿真。仿真结果与设计结果吻合得很好,证明了设计公式的有效性。

关 键 词:半导体技术  集成电路  0.13μm工艺  CMOS场效应管  输出电导
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