基于PXI总线的塑料挤出平膜扁丝机组温控测试系统 |
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引用本文: | 蒋正炎.基于PXI总线的塑料挤出平膜扁丝机组温控测试系统[J].工业控制计算机,2010,23(12):57-57,60. |
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作者姓名: | 蒋正炎 |
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作者单位: | 常州轻工职业技术学院,江苏常州213164 |
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摘 要: | 挤出平膜扁丝机组温控测试系统的对象是温度传感器、温控仪、功率调节仪等检控器件。系统采用PXI总线和可扩展程控仪器标准,组成一个开放式和模块化的通用测试系统。根据目前自动测试技术的发展,测试设备采用PXI总线技术,辅以可扩展程控仪器组建智能测试平台。
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关 键 词: | 温控测试系统 PXI总线 智能测试平台 |
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