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| 光谱宽度与光束截面因子对平面光栅衍射效率测量的影响 | |
| 引用本文： | 曹海霞,巴音贺希格,崔继承,吴娜,潘明忠.光谱宽度与光束截面因子对平面光栅衍射效率测量的影响[J].光学精密工程,2014,22(3):562-568. |
| 作者姓名： | 曹海霞 巴音贺希格 崔继承 吴娜 潘明忠 |
| 作者单位： | 曹海霞:中国科学院 长春光学机密机械与物理研究所, 吉林 长春 130033中国科学院大学, 北京 100049 巴音贺希格:中国科学院 长春光学机密机械与物理研究所, 吉林 长春 130033 崔继承:中国科学院 长春光学机密机械与物理研究所, 吉林 长春 130033 吴娜:中国科学院 长春光学机密机械与物理研究所, 吉林 长春 130033 潘明忠:中国科学院 长春光学机密机械与物理研究所, 吉林 长春 130033 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(No.61108032); 国家重大科研装备研制资助项目(No.ZDYZ2008-1); 中国科学院重大科研装备研制资助项目(No.YZ200804); 国家重大科学仪器设备开发专项资助项目(No.11YQ120023); 吉林省重大科技攻关项目(No.09ZDGG005); 吉林省科技发展计划资助项目(No.20126012) |
| 摘 要： | 为了进一步提高平面光栅衍射效率测试仪的测量精度,分析了影响平面光栅衍射效率测量值的主要因素。根据平面光栅相对衍射效率测量原理,提出光束截面因子的概念并推导出了平面光栅光束截面因子k(θ)的解析表达式。进一步分析了影响衍射效率测量值的因素(光谱宽度与光束截面因子),并结合衍射效率测量值定义了两个用于回归分析的自变量。针对作为因变量的理论值与所定义自变量之间存在的非线性关系,提出了采用二次完全式回归分析的数学方法,进而建立了提高衍射效率测量精度的修正公式。结果表明:对平面光栅衍射效率测量值进行修正后,修正值与理论值之间的误差可控制在±0.5%以内,提高了衍射效率的测量精度,改进了衍射效率测试仪的整机性能。 |
| 关 键 词： | 平面光栅 衍射效率 二次完全式回归分析 光谱宽度 光束截面因子 |
| 收稿时间： | 2012/11/12 |
Effect of spectral width and beam cross section factor on diffraction efficiency measurement of plane grating |
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| Abstract: | |
| Keywords: | plane gratings diffraction efficiency complete quadratic regression analysis spectral width beam cross section factor |
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