“正方形”MLCC产品的DPA与无损检测 |
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作者姓名: | 董松 杜红炎 吕素果 张杰 |
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作者单位: | 北京元六鸿远电子技术有限公司,北京100070 |
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摘 要: | 对多层瓷介电容器(MLCC)产品进行超声波无损检测时,要求使MLCC的内电极平行于水平面放置。而对于那些无法知道内电极排列方向的"正方形"产品,就很容易漏检。而且,这类产品在做DPA检测时,无法正确地码放也成了一个问题--既浪费了样品又浪费了时间。因此,对于这类的MLCC产品,能够正确地辨认内电极排列的方向就显得至关重要。通过对MLCC进行超声波扫描与DPA的对比试验,找到了正确辨认内电极排列的方法,由此可以大大提高工作效率。
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关 键 词: | 多层瓷介电容器 超声波扫描显微镜 破坏性物理分析 |
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