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X射线在超晶格材料衍射中的相干性分析
引用本文:马永强,武一宾,杨瑞霞,李若凡,商耀辉,牛晨亮,卜夏正,王建峰.X射线在超晶格材料衍射中的相干性分析[J].半导体技术,2007,32(12):1042-1044.
作者姓名:马永强  武一宾  杨瑞霞  李若凡  商耀辉  牛晨亮  卜夏正  王建峰
作者单位:1. 河北工程大学,河北,邯郸,056038;中国电子科技集团公司,第十三研究所,石家庄,050051;河北工业大学,天津,300130
2. 中国电子科技集团公司,第十三研究所,石家庄,050051
3. 河北工业大学,天津,300130
4. 中国电子科技集团公司,第十三研究所,石家庄,050051;河北工业大学,天津,300130
基金项目:国防科技应用基础研究基金 , 总装备部科研项目
摘    要:X射线双晶衍射仪系统中受参考晶体分辨率等因素的影响,X射线的相干长度不超过1 μm.X射线在异质外延晶体材料内衍射时,不超过相干长度范围内厚度外延层中的衍射波会产生相干叠加,否则,产生非相干叠加.分子束外延(MBE)生长了短周期InGaAs/GaAs超晶格,在其摇摆曲线中观察到显示X射线在超晶格结构中衍射相干特征的多级卫星峰及Pendell(o)song干涉条纹,并利用相干光理论对超晶格结构信息诸如周期及"0"级峰位置等进行了分析.

关 键 词:超晶格  分子束外延  X射线双晶衍射  相干长度
文章编号:1003-353X(2007)12-1042-03
修稿时间:2007年7月11日

Coherent Analysis of X-Ray Diffraction on Superlattice Material
MA Yong-qiang,WU Yi-bin,YANG Rui-xia,LI Ruo-fan,SHANG Yao-hui,NIU Chen-liang,BU Xia-zheng,WANG Jian-feng.Coherent Analysis of X-Ray Diffraction on Superlattice Material[J].Semiconductor Technology,2007,32(12):1042-1044.
Authors:MA Yong-qiang  WU Yi-bin  YANG Rui-xia  LI Ruo-fan  SHANG Yao-hui  NIU Chen-liang  BU Xia-zheng  WANG Jian-feng
Abstract:
Keywords:superlattice  MBE  X-ray double crystal diffraction  coherence length
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