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基于MCS-51的CS16312自制测试台简介
引用本文:徐君. 基于MCS-51的CS16312自制测试台简介[J]. 电子与封装, 2006, 6(6): 28-30
作者姓名:徐君
作者单位:中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏,无锡,214035
摘    要:自制集成电路测试台相对于专用集成电路测试设备具有明显的成本优势,因此,一些厂家为了节省成本,对部分电路会采用自制测试台来进行测试。文章便简单地介绍了利用AT89C51单片机制作CS16312测试台的原理和方法。文章从硬件和软件两个方面分别作了阐述,讲述该测试台的测试项目和测试方法,以及碰到的一些问题。

关 键 词:MCS-51  测试台  硬件  软件
文章编号:1681-1070(2006)06-28-03
收稿时间:2006-02-20
修稿时间:2006-02-20

The Apparatus of Testing CS16312 Controlling by Microprocessor ( MCS-51 )
Xu Jun. The Apparatus of Testing CS16312 Controlling by Microprocessor ( MCS-51 )[J]. Electronics & Packaging, 2006, 6(6): 28-30
Authors:Xu Jun
Affiliation:The 58^th Research institute of CETC, Wuxi Jiangsu 214035, China
Abstract:In this paper, the principle and simple method for the apparatus of testing CS16312 controlling by microprocessor ( MCS-51 ) is introduced.
Keywords:MCS-51
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